Optris Xi 1M ETH Wärmebildkamera

  • Eignung: Heiße Metalle & niedrig emittierende Werkstoffe
  • Messbereich: bis 1800 °C
  • Spektrum: 0,85–1,1 µm
  • Auflösung: 396 × 300 px
  • Dynamik: 20 Hz · Zeilenscan bis 500 Hz
  • Integration: Ethernet + USB · autonom

Die Optris Xi 1M ETH ist eine kurzwellige industrielle Wärmebildkamera für die berührungslose Temperaturmessung heißer Metalle und anderer Werkstoffe mit niedrigem oder veränderlichem Emissionsgrad. Mit 0,85–1,1 µm arbeitet sie in einem Spektralbereich, der bei hohen Metalltemperaturen deutlich günstigere Messbedingungen bietet als langwellige Wärmebildkameras. Die CMOS-Kamera erfasst 396 × 300 Pixel und misst – abhängig von Optik und Betriebsart – Temperaturen bis 1800 °C. Im Vollbildbetrieb stehen über Ethernet 20 Hz zur Verfügung; für schnelle kontinuierliche Prozesse kann die Xi 1M als Zeilenscanner mit bis zu 500 Hz arbeiten. Zusätzlich unterstützt sie autonomen Betrieb, Hot-Spot-Auswertung, motorisierten Fokus sowie direkte Prozess- und Ethernet-Schnittstellen. Damit richtet sich die Xi 1M besonders an Metall-, Stahl-, Keramik- und Halbleiterprozesse, bei denen Temperaturverteilung, Messdynamik und Materialeigenschaften gleichzeitig relevant sind.

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Warum ist die kurze Wellenlänge für heiße Metalle entscheidend?

Blanker oder nur schwach oxidierter Stahl, Eisen, Kupfer und andere Metalle besitzen im langwelligen Bereich häufig einen niedrigen Emissionsgrad und reflektieren einen großen Anteil der Umgebungsstrahlung. Eine 8–14-µm-Kamera kann dadurch stärker auf Änderungen von Oberfläche, Oxidation und reflektierter Fremdstrahlung reagieren.

Die Xi 1M misst bei 0,85–1,1 µm. Bei hohen Temperaturen verbessert die kurze Wellenlänge die Messbedingungen für niedrig emittierende Oberflächen und reduziert den Einfluss von Emissionsgradfehlern. Deshalb ist Xi 1M keine hochtemperaturfähige Variante der Xi 410, sondern eine andere spektrale Lösung für eine andere Materialklasse.

Optris nennt unter anderem Stahl, Eisen, Messing, Kupfer, Zinn, Kohlenstoff, Keramik und Halbleiter als typische Werkstoffe. Auch hier gilt: Materialname allein ersetzt keine Messstellenprüfung. Oberflächenzustand, Oxidation, Temperatur, Blickwinkel und Prozessatmosphäre beeinflussen die reale Messbarkeit.

Für Metallschmelzen oder Prozesse oberhalb des Xi-1M-Bereichs sollte die Xi 05M MeltScope geprüft werden. Für hoch emittierende Oberflächen bei niedrigeren Temperaturen kann dagegen eine langwellige Xi 410 die passendere Plattform sein.

Welche Optik und Messgeometrie passen zur Metallanwendung?

Die Xi 1M ist mit 7° × 5°, 14° × 10° und 28° × 21° erhältlich; für 7° × 5° gibt es zusätzlich eine Close-Focus-Ausführung. Die Optiken sind nicht austauschbar und müssen deshalb anhand der realen Messgeometrie vor Bestellung festgelegt werden.

Die 7°-Optik erreicht mit bis zu 806:1 die höchste geometrische Auflösung. Bei der Standardausführung nennt Optris ein MFOV von 1,2 mm, bei der 7°-Close-Focus-Version 0,4 mm. Die 14°-Optik erreicht 2,5 mm, die 28°-Optik 2,8 mm – jeweils bei den spezifizierten Mindestabständen.

Für eine belastbare Temperaturmessung definiert Optris bei Xi 1M ein MFOV von 4 × 4 Pixeln. Ein einzelner Pixel ist deshalb keine ausreichende Auslegungsgröße. Gerade bei kleinen glühenden Bauteilen, Drähten, Kanten oder schmalen Metallbändern muss geprüft werden, ob die relevante Fläche das MFOV sicher ausfüllt.

Der motorisierte Fokus erleichtert Inbetriebnahme und Formatwechsel. Er verändert jedoch weder FOV noch die grundsätzliche optische Auflösung. Arbeitsabstand, Zielgröße und Optik bleiben feste konstruktive Größen.

Was wir bei der Auswahl konkret klären: Werkstoff und Oberflächenzustand, reale Temperatur, kleinste relevante Zone, Arbeitsabstand, Sichtfeld und Bewegung des Objekts. Daraus ergibt sich, ob Xi 1M spektral passt und welche Optik die notwendige Messauflösung erreicht.

Wann sind 20 Hz ausreichend – und wann wird der 500-Hz-Zeilenscanner relevant?

Im normalen Ethernet-Betrieb liefert die Xi 1M 396 × 300 Pixel mit 20 Hz. Damit lässt sich eine vollständige zweidimensionale Temperaturverteilung erfassen. Für viele stationäre oder moderat dynamische Metallprozesse ist das die sinnvollste Betriebsart.

Bei schnell bewegten Bändern, rotierenden Teilen oder kontinuierlichen Materialströmen kann dagegen die zeitliche Auflösung wichtiger werden als ein vollständiges Einzelbild. Im Zeilenscanmodus erreicht die Xi 1M bis zu 500 Hz. Über Ethernet werden dabei 396 × 8 Pixel übertragen; im autonomen Betrieb kann eine 396 × 1 Pixel breite Messzeile ausgewertet werden.

Die Betriebsart beeinflusst auch den nutzbaren unteren Temperaturbereich. Laut aktuellem Datenblatt messen 12- und 25-mm-Optiken bei 20 Hz ab 450 °C, im 500-Hz-Modus ab 550 °C. Bei der 50-mm-Optik liegen die Grenzen bei 525 °C beziehungsweise 575 °C. Diese Unterschiede müssen bei schnellen Prozessen berücksichtigt werden.

Zeilenscan ist deshalb nicht pauschal ‚besser‘ als Vollbild. Entscheidend ist, ob der Prozess eine zweidimensionale Temperaturverteilung oder eine sehr schnelle Temperaturprofilierung entlang einer definierten Linie benötigt.

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