Die Mikroskopoptik für die Infrarotkamera optris Xi 400 ermöglicht eine verlässliche Temperaturmessung an winzigen Objekten ab 240 µm. In Kombination mit einem passenden Ständer ermöglicht dies eine professionelle Messung von Leiterplatten und Komponenten in der Elektronikindustrie. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist variabel zwischen 90 und 110 mm. Durch den eingebauten Motorfokus lässt sich die Kamera bequem in der mitgelieferten PIX Connect Software fokussieren.
Lieferumfang: Xi 400 Kamera mit Mikroskopoptik USB-Kabel (1 m) Standard PIF-Kabel (1 m) inkl. Anschlussklemmleiste Montagewinkel mit Mutter Software-Paket optris® PIX Connect Detektor: FPA, ungekühlt (17 µm Pitch) Optische Auflösung: 382 x 288 Pixel Spektralbereich: 8 – 14 µm Temperaturebereiche: –20 °C … 100 °C 0 °C … 250 °C (20) 150 °C … 900 °C 1)
Bildfrequenz: 80 Hz / 27 H Messabstand: 90 – 110 mm Mikroskop-Optik: 18° x 14° (f = 20 mm) Kleinster Messfleck (FOV): 81 µm @ 90 mm Instantaneous Field of View (IFOV): 80 µm MFOV: 240 µm @ 90 mm Fokus: Manueller Motorfokus Messfleck-Distanz-Verhältnis (D:S): 390:1 Thermische Empfindlichkeit (NETD): 80 mK @ 27 Hz Systemgenauigkeit (bei Umgebungstemperatur 23 ±5 °C): ±2 °C or ±2 %, es gilt der größere Wert PC-Schnittstelle: USB 2.0 / optional USB zu GigE (PoE) Interface Prozess-Interface (PIF): Standard-PIF: 0–10 V Eingang, digitaler Eingang (max. 24 V), 0–10 V Ausgang Industrie-PIF: 2 x 0–10 V Eingang, digitaler Eingang (max. 24 V), 3 x 0–10 V Ausgang, 3 x Relais (0–30 V / 400 mA), Fail-Safe Relais Kabellänge (USB): 1 m (standard), 3 m, 5 m, 10 m, 20 m Umgebungstemperatur (TAmb): 0 °C…50 °C Relative Luftfeuchtigkeit: 10 – 95 %, nicht kondensiert Gehäuse (Größe / Schutzklasse): Ø 36 mm x 100 mm (M30x1 Gewinde) / IP 67 (NEMA 4) Gewicht: 200 g Schock 2): IEC 60068-2-27 (25 G und 50 G) Vibration 2): IEC 60068-2-6 (sinusförmig) IEC 60068-2-64 (Breitbandrauschen) Stativaufnahme: 1/4-20 UNC Spannungsversorgung: USB
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